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何鸿燊端子的电气性能

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何鸿燊端子的电气性能

电气性能测试

  1 接触电阻试验(CONtactResistance  接触电阻测试是测试端子静态的接触性能,即接触电阻应不大于一定的数值。

  2 工频耐压试验(Power-Frequency Withstand Voltage Test  工频耐压试验是测试端子外壳应能否承规定的暂态或短时工频过电压。在试验期间,不得出现闪络或击穿等现象。

  3 冲击耐压试验(Impulse Withstand Voltage Test  冲击耐压试验是测试端子外壳应能否承受规定的瞬态过电压。试验过程中应无破坏性放电。

  4 电压降试验(Voltage Drop Test  电压降试验是测试端子的动态接触性能。电压降应不大于一定的数值。

  5 温升试验(Temperature Rise Test  温升试验是测试端子在正常使用时,其温升不能超过规定值,一般UL标准规定端子在通过电流后,其温度的升高不能超过环境温度的30℃。

6 高低温电气性能试验(Electrical Performance Test  电气性能试验是测试无螺纹型端子在正常使用时,其电气性能的可靠性。在端子经受192个循环后,其在第24个和最后一个循环的电压降不得大于一定值。

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